- SEMICONDUCTOR
- 半導体デバイス検査用 - Kelvin
Kelvinの特徴
- Kelvin Contact (4端子接続)
精度の高い検査で用いられる4端子測定に適したスプリングプローブをご提案。2本のプローブを半導体デバイスの1端子に接触させます。プローブ自体のピッチが0.3、0.4、0.5mmピッチの3ピッチから選択いただけます。
Kelvinの仕様
| 分類 | ピッチ (mm) | 全長 (mm) | デバイス側先端 | 荷重(gf) | 使用ストローク (mm) | スプリング耐久回数 (Cycle) | 固有抵抗値 (Ω) | 使用温度 (℃) | 最大許容電流 (A) | バンド幅@-1dB (GHz) | |
| 材質 | メッキ | ||||||||||
| カタログ | 0.3 | 4.5 | BeCu | Au | 15 | 0.3 | 1000K | ≦0.2 | -45～125 | 0.9 | 17.7 |
| カタログ | BeCu | Au Alloy | |||||||||
| カタログ | 0.4 | 3.9 | BeCu | Au | 22 | 0.45 | 1000K | ≦0.05 | -45～125 | 2.7 | 26.5 |
| カタログ | BeCu | Au Alloy | 1.5 | ||||||||
| カタログ | 0.5 | 5.5 | BeCu | Au | 31 | 0.45 | 500K | ≦0.05 | -45～140 | 2.4 | 8.4 |
| カタログ | BeCu | Au Alloy | 1.7 | ||||||||
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